印制电路板中有害物质分析方法 第1 部分:铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X射线荧光光谱法
2019-07-01

DB34/T 3368《印制电路板中有害物质分析方法》共 6 个部分:
——第1 部分:铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X 射线荧光光谱法;
——第2 部分:卤素(氯和溴)的测定 离子色谱法;
——第3 部分:多溴联苯及多溴二苯醚的测定 气相色谱-质谱法;
——第4 部分:铅和镉的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法;
——第5 部分:汞含量的测定 电感耦合等离子体光谱法;
——第6 部分:六价铬含量的测定 分光光度法。
本部分为第 1 部分。
本部分按照 GB/T 1.1-2009 给出的规则起草。
本部分由安徽国家铜铅锌及制品质量监督检验中心提出。
本部分由安徽省有色金属标准化技术委员会负责归口。
本部分主要起草单位:安徽国家铜铅锌及制品质量监督检验中心。
本部分参加起草单位:铜陵有色金属集团控股有限公司检测研究中心。
本部分主要起草人:臧真娟、周蕾玲、洪军、汪海、赵亮、龚昌合、黄薇薇。

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附件
  • DB34_T3368.1-2019印制电路板中有害物质分析方法+第+1+部分:铅、汞、铬、镉和溴+的快速筛选+X+射线荧光光谱法.pdf
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